PAM系列手持式表面沾污儀  PAM-150型α、β表面沾污儀

AM系列手持式表面沾污儀是對可能被α、β、γ放射性核素污染的表面進行監(jiān)測的手持式測量儀，采用較薄的閃爍體探測器，適用于α、β表面污染的測量。

廣泛用于因可能被污染而須監(jiān)測的場所，例如：核電廠、再加工工廠、退役或被拆除的核設施、放射性廢物處理廠、研究所及各種環(huán)境中的應用，可對墻壁、地板、桌子、手、腳、衣服或其他物品進行表面污染監(jiān)測。

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 詳細介紹

    PAM系列手持式表面沾污儀是對可能被α、β、γ放射性核素污染的表面進行監(jiān)測的手持式測量儀，采用較薄的閃爍體探測器，適用于α、β表面污染的測量。

廣泛用于因可能被污染而須監(jiān)測的場所，例如：核電廠、再加工工廠、退役或被拆除的核設施、放射性廢物處理廠、研究所及各種環(huán)境中的應用，可對墻壁、地板、桌子、手、腳、衣服或其他物品進行表面污染監(jiān)測。

    PAM-150輕便小巧，探測面在儀器底部有金屬格柵保護，顯示屏和操作按鈕在儀器頂部，儀器內部包括塑料閃爍體，反射體，光電倍增管和信號處理電子設備等。

由電池供電，使用標準C號電池，安裝在手柄內。設計簡單，操作方便，高分辨率顯示屏可顯示計數(shù)率或總計數(shù)（也可根據(jù)需要顯示柱狀圖）、電池電量。有背景燈模式。普通光線下可不使用背景燈。

主要特點：

非氣體探測器、快速更換鋁箔、結構緊湊、重量輕，操作簡單、持續(xù)使用時間長、高靈敏度、響應好、可設置兩個報警閾值、易去污。

技術參數(shù)：

探測器：閃爍體探測器鍍ZnS（Ag）

體積：10×10（100平方厘米）

探測窗：鍍鋁膜樹脂

探測效率（PAM-150）：﹥35%    Am-241、﹥35%   Tl-204、﹥40%   Sr-90+Y-90、﹥30%   Cs-137

探測下限：﹥1.105cps

能量范圍：49kev-2.5Mev

電池：標準C號電池，堿性電池或可充電電池

電池壽命：不使用背景燈條件下可使用約150小時

重量：約1kg

顯示屏：128×64點陣，面積：60.8mm×33mm

單位：cps, cps.cm-2或Bq and Bq.cm-2

說明：

探測器采用鍍ZnS（Ag）的大面積塑料閃爍體將信號耦合到光電倍增管，探測窗口采用金屬柵格保護的鋁膜，設計合理的反光鏡幾何形狀和表面使得探測器探測效率高，數(shù)據(jù)準確。

儀器計數(shù)會觸發(fā)設備內部蜂鳴器，可通過相關設置關閉提示聲。